美国泰克
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美国泰克半导体分析仪2600-PCT-1B

产品特点:

  • 完善的解决方案,价格实惠且性能优异
  • 可现场升级和重新配置,将 PCT 转换成可靠性或晶片分类测试仪
  • 可配置功率电平:
    • 200V 至 3kV
    • 1A 至 100A
  • 宽动态范围:
    • µV 至 3kV
    • fA 至 100A
  • 全量程容-电压 (C-V) 能力:
    • fF 至 µF
    • 支持 2、3 和 4 端器件
    • 高达 3kV DC 偏移
  • 高性能测试夹具支持一系列软件包类型
  • 探头测试台接口支持最常见的探头类型,包括 HV 同轴三线电缆、SHV 同轴电缆、标准同轴三线电缆等
  • 应用

    • 功率半导体器件特性分析与测试
    • GaN、SiC、LDMOS以及其他器件
    • 特性分析
    • 功率器件可靠性研究 器件检测与质量认证


开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件,需要全面的器件级检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪(代替原晶体管图示仪)支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和高功率脉冲IV曲线测量。


型号说明高压模式大电流模式分析仪价格
2600-PCT-1B

低功率

200 V/10 A200 V/10 A请联系我们
2600-PCT-2B

高电流

200 V/10 A40 V/50 A请联系我们 
2600-PCT-3B

高压

3 kV/120 mA200 V/10 A请联系我们
2600-PCT-4B

高电流和高电压

3 kV/120 mA40 V/50 A请联系我们